Se definen y describen las principales distribuciones estadísticas involucradas en procesos de muestreo por atributos: Binomial, Poisson e Hipergeométrica.
Se describen loas metodologías disponibles para calcular los planes de muestreos simple y doble por atributos. Se definen los riesgos alfa y beta de muestreo. Se demuestran las aplicaciones de las curvas características de muestreo (OC) y de las curvas de promedio de ítems ensayados (ASN). Se muestran las formas en que los planes de muestreo pueden calcularse por medio de Excel y de Minitab. Se dan varios ejemplos textiles reales.
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